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X射線衍射法原理：
      X射線衍射法是一種研究晶體結構的分析方法，而不是直接研究試樣內含有元素的種類及含量的方法。當X射線照射晶態(tài)結構時，將受到晶體點陣排列的不同原子或分子所衍射。X射線照射兩個晶面距為d的晶面時，受到晶面的反射，兩束反射X光程差2dsinθ使入射波長的整數(shù)倍時，即2dsinθ=nλ（n為整數(shù)），兩束光的相位一致，發(fā)生相長干涉，這種干涉現(xiàn)象稱為衍射，晶體對X射線的這種折射規(guī)則稱為布拉格規(guī)則。θ稱為衍射角（入射或衍射X射線與晶面間夾角）。n相當于相干波之間的位相差，n=1，2…時各稱0級、1級、2級……衍射線。反射級次不清楚時，均以n=1求d。晶面間距一般為物質的特有參數(shù)，對一個物質若能測定數(shù)個d及與其相對應的衍射線的相對強度，則能對物質進行鑒定。